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CM100膜厚仪

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产品名称: CM100膜厚仪
产品型号:
产品展商: 科晶
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简单介绍

CM100膜厚仪是一款便携式透明/半透明薄膜厚度测量仪,主要用于半导体制造、液晶显示、光学涂层等方面的测试应用。通过分析薄膜的反射光谱来快速测量薄膜厚。

CM100膜厚仪的详细介绍


产品名称

CM100膜厚仪

主要特点

1.操作简单,使用方便

2.测量快速、准确

3.体积小、重量轻,便携式

4.高性价比无损测量

技术参数

1. 光谱范围:370-1000nm

2. 光谱分辨率:1.6nm

3. 测量光斑:典型1.5mm

4. *大样片厚度测量范围:15nm- 100μm

5. 膜厚测量重复性:0.1nm

6. 测量膜层数目:4层

7. 准确度:2nm或0.4%

8. 单次测量时间:典型1-2秒


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销售:024-23826161 23826163 23826164 转805 812 825 821 811 808 

销售专线:18624331856  18624331865  18624331992  18624331806  18624331853

售后:024-23826163转829  售后热线:18624331680  工艺技术服务专线:18624331690

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