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8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜

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产品名称: 8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜
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简单介绍

8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜广泛应用于透明、半透明、不透明物质(如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层)等材料表面的结构、痕迹检测,拥有很好的成像效果。

8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜的详细介绍

产品型号

8XB正置(明暗场)芯片检查显微镜

主要特点

1采用高分辨率、长工作距离无限光路校正系统物镜成像技术。

2拓展了物镜的复用技术,无限远物镜与所有观察法相兼容,包括明暗视野法、偏光法,并在每一观察法中均  提供高清晰的图像质量

3采用非球面Kohler照明,增加观察亮度

技术参数

1、镜筒:倾斜30°

2高眼点目镜:倍率10×,视场范围25mm

3限远长工作距离明暗场物镜:倍率5×、10×、20×、40×,数值孔径0.100.250.400.60工作距离

                                                              29.4mm16mm10.6mm5.1mm

4、物镜转换:五孔转换器

5调焦机构:粗、微动同轴调焦,微动格值0.002mm,调焦范围36mm

6、工作台:双层移动平台,尺寸311mm×352mm,移动范围250mm×250mm

7、照明:垂直照明,12V/100W卤素灯,带孔径光阑和视场光阑,亮度可调节

标准配件

1

目镜筒

1

2

目镜(10×)

1

3

无限远长工作距离明暗场物镜(5×、10×、20×、40×)

1

可选配件

112.5×目镜

210×测微镜(测微尺格值0.01mm

3无限远长工作距离明暗场物镜(40×、100×干)



 

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